1.一种半导体缺陷检测用超声波检测设备，其特征在于：包括主机体（1）、超声波检测组件（8）、控制面板（12）和推件组件（13），所述超声波检测组件（8）包括有超声波检测头（805），所述超声波检测头（805）用于发射和接收超声波，并将信号传送到控制面板（12）中，所述主机体（1）顶部固定有防护壳（11）；

所述超声波检测组件（8）还包括有传动组件（801）、铰接座（802）和第一臂（803），所述铰接座（802）和第一臂（803）通过轴活动连接，且第一臂（803）和第二臂（804）通过轴活动连接，所述铰接座（802）、第一臂（803）和第二臂（804）用于调节超声波检测头（805）的角度和位置，所述超声波检测组件（8）通过支架固定在防护壳（11）的内部；

所述传动组件（801）用于对铰接座（802）、第一臂（803）、第二臂（804）进行往复移动；

所述传动组件（801）包括有导轨（8011）、滑块（8012）和支撑台（8016），所述支撑台（8016）的呈三角形通过支架固定在防护壳（11）的内部，所述支撑台（8016）在防护壳（11）的内部分布有若干个；

所述导轨（8011）通过螺栓固定在支撑台（8016）上，所述导轨（8011）沿支撑台（8016）的长度方向设置并与滑块（8012）滑动连接；

所述传动组件（801）还包括有丝杠（8014）和第二旋转驱动件（8015），所述丝杠（8014）的一端与第二旋转驱动件（8015）的输出端相互连接，所述第二旋转驱动件（8015）用于为丝杠（8014）提供旋转的动力，所述滑块（8012）上固定有连接块（8013），所述连接块（8013）沿丝杠（8014）的长度方向设置，所述丝杠（8014）和连接块（8013）通过螺纹相互啮合，所述连接块（8013）的顶部与铰接座（802）的底部通过轴活动连接；

所述主机体（1）顶部的一侧安装有两组相互对称的下料盒（2），所述下料盒（2）中设置有用于下料的下料组件（3），所述下料盒（2）中底部设置有往复运动的输送组件（7），所述输送组件（7）的顶部设置有提升组件（6）；

所述下料组件（3）包括有第一旋转驱动件（301）和旋转轴（303），所述旋转轴（303）在下料盒（2）中分布有若干组，所述旋转轴（303）的一端与第一旋转驱动件（301）的输出端相互连接，所述第一旋转驱动件（301）固定在下料盒（2）的外侧，且第一旋转驱动件（301）用于带动旋转轴（303）进行转动，所述旋转轴（303）上沿其长度方向分布有若干个挡块（302），所述挡块（302）上放置有料盘（4），所述挡块（302）外部开设有凹槽，所述挡块（302）上的槽卡在料盘（4）的外边缘处；

所述下料组件（3）包括有传送轮（304），所述传送轮（304）安装到旋转轴（303）的一端，且旋转轴（303）之间通过皮带相互连接；

所述输送组件（7）用于使提升组件（6）沿X轴方向往复运动，所述提升组件（6）包括有第一支撑箱（601）和第一支撑板（602），所述第一支撑箱（601）中固定有第一伸缩驱动件（603），所述第一伸缩驱动件（603）的输出端穿过第一支撑箱（601）的顶部与第一支撑板（602）的底部相互固定连接，所述第一支撑板（602）和第一支撑箱（601）之间滑动设置有若干个导向杆，所述第一伸缩驱动件（603）用于第一支撑板（602）沿Z轴方向运动，所述第一支撑板（602）用于支撑料盘（4）并将料盘（4）取出；

所述下料盒（2）内壁靠近其中心位置安装有用于将料盘（4）推出的推件组件（13），且推件组件（13）包括有第三伸缩驱动件（1301），且第三伸缩驱动件（1301）沿X轴方向固定在下料盒（2）的内壁，且第三伸缩驱动件（1301）的输出端沿Y轴方向固定有第四伸缩驱动件（1302），且第四伸缩驱动件（1302）的输出端连接有用于将料盘（4）推出的推件块（1303）；

所述主机体（1）顶部的中心位置两个轨道（5），所述轨道（5）上设置有用于料盘（4）进行往复运动的转移组件（10），所述转移组件（10）顶部固定有用于将料盘（4）沿Z轴运动的升降组件（9）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体缺陷检测用超声波检测设备，其特征在于：所述下料盒（2）内侧靠近顶部的位置设置有限位块，且限位块的截面呈“L”型。