1.一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

获取光学薄膜的微观灰度图像；根据微观灰度图像中每行像素点的灰度值分布和每列像素点的灰度值分布，分析灰度值的周期性特征，得到滑动窗口的尺寸大小；

利用所述尺寸大小的滑动窗口对微观灰度图像进行处理，根据微观灰度图像中每个滑动窗口在不同方向上不同的滑动长度的相邻的滑动窗口之间的灰度相似分布情况以及局部灰度波动的差异分布情况，得到每个滑动窗口与每个相邻的滑动窗口之间的结构关联因子；

根据每个滑动窗口对应的每个相邻的滑动窗口内属于目标的像素点分布特征和对应的滑动长度，结合所述结构关联因子，得到每个滑动窗口的微观特征评价；

根据微观灰度图像中每个滑动窗口的微观特征评价分析光学薄膜的缺陷特征程度，得到质量评价结果。

2.根据权利要求1所述的一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法，其特征在于，所述根据微观灰度图像中每行像素点的灰度值分布和每列像素点的灰度值分布，分析灰度值的周期性特征，得到滑动窗口的尺寸大小，具体包括：对于任意一行或者任意一列像素点，根据该行或者该列所有像素点的灰度变化特征得到该行或者该列的周期值；

基于微观灰度图像中预设数量行的周期值，确定滑动窗口的第一边长，基于微观灰度图像中预设数量列的周期值，确定滑动窗口的第二边长，滑动窗口的尺寸大小为所述第一边长和第二边长的乘积。

3.根据权利要求2所述的一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法，其特征在于，所述根据该行或者该列所有像素点的灰度变化特征得到该行或者该列的周期值，具体包括：将所述任意一行或者任意一列的像素点的灰度值构成像素灰度序列，计算像素灰度序列的自相关函数，基于所述自相关函数的峰值之间的间隔距离，确定像素灰度序列对应的行或者列的周期值。

4.根据权利要求2所述的一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法，其特征在于，所述根据微观灰度图像中每个滑动窗口在不同方向上不同的滑动长度的相邻的滑动窗口之间的灰度相似分布情况以及局部灰度波动的差异分布情况，得到每个滑动窗口与每个相邻的滑动窗口之间的结构关联因子，具体包括：对于微观灰度图像中任意一个滑动窗口，将滑动窗口在不同方向上不同滑动长度的相邻的滑动窗口均记为滑动窗口的参照窗口，在横向上所述滑动长度不小于第一边长，在纵向上所述滑动长度不小于第二边长；

根据滑动窗口与每个参照窗口在对应位置的像素点的灰度值的差异特征分布，得到滑动窗口与每个参照窗口之间的灰度关联特征；

根据滑动窗口内每个像素点在局部范围的灰度分布特征和每个参照窗口内对应位置像素点在局部范围的灰度分布特征之间的差异情况，得到滑动窗口与每个参照窗口之间的聚集波动特征；

根据所述灰度关联特征和聚集波动特征得到滑动窗口与每个参照窗口之间的结构关联因子，所述灰度关联特征与结构关联因子呈正相关关系，所述聚集波动特征与结构关联因子呈负相关关系。

5.根据权利要求4所述的一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法，其特征在于，所述根据滑动窗口与每个参照窗口在对应位置的像素点的灰度值的差异特征分布，得到滑动窗口与每个参照窗口之间的灰度关联特征，具体包括：对于任意一个参照窗口，基于滑动窗口和参照窗口在每个对应相同位置的像素点的灰度值差异的负相关系数，确定滑动窗口和参照窗口之间的灰度关联特征。

6.根据权利要求4所述的一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法，其特征在于，所述根据滑动窗口内每个像素点在局部范围的灰度分布特征和每个参照窗口内对应位置像素点在局部范围的灰度分布特征之间的差异情况，得到滑动窗口与每个参照窗口之间的聚集波动特征，具体包括：对于任意一个参照窗口，基于滑动窗口和参照窗口之间对应位置像素点的灰度值差异，确定差值窗口；

基于差值窗口中每个位置的预设邻域内所有灰度值差异的整体水平，确定每个位置的邻域差异因子；

结合差值窗口内每个位置的邻域差异因子的波动程度和灰度值差异的波动程度，确定差值窗口对应的滑动窗口和参照窗口之间的聚集波动特征。

7.根据权利要求4所述的一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法，其特征在于，所述根据每个滑动窗口对应的每个相邻的滑动窗口内属于目标的像素点分布特征和对应的滑动长度，结合所述结构关联因子，得到每个滑动窗口的微观特征评价，具体包括：对于滑动窗口的任意一个参照窗口，根据参照窗口内属于目标的像素点的特征占比和参照窗口相对于滑动窗口的滑动长度，得到参照窗口的参考权值；

结合参照窗口的参考权值和对应的结构关联因子，得到参照窗口的参考结构特征值；

利用所述参考结构特征值对滑动窗口的每个参照窗口进行筛选，得到滑动窗口的关联窗口；基于滑动窗口的每个关联窗口的参考结构特征值的负相关系数，确定滑动窗口的微观特征评价。

8.根据权利要求7所述的一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法，其特征在于，所述根据参照窗口内属于目标的像素点的特征占比和参照窗口相对于滑动窗口的滑动长度，得到参照窗口的参考权值，具体包括：获取参照窗口内灰度值大于该参照窗口内所有像素点的灰度均值的像素点数量，基于所述像素点数量在参照窗口内的占比和参照窗口的滑动长度，确定参照窗口的参考权值，像素点数量在参照窗口内的占比与参考权值呈正相关关系，所述滑动长度与参考权值呈负相关关系。

9.根据权利要求7所述的一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法，其特征在于，所述利用所述参考结构特征值对滑动窗口的每个参照窗口进行筛选，得到滑动窗口的关联窗口，具体包括：按照参考结构特征值从大到小的顺序选取滑动窗口的设定数量个参照窗口作为滑动窗口的关联窗口。

10.根据权利要求1所述的一种光学薄膜的微观质量高精度检测方法，其特征在于，所述根据微观灰度图像中每个滑动窗口的微观特征评价分析光学薄膜的缺陷特征程度，得到质量评价结果，具体包括：融合微观灰度图像中所有滑动窗口的微观特征评价，确定微观灰度图像的缺陷判断因子，所述缺陷判断因子为归一化的数值；

当所述缺陷判断因子大于或等于预设的缺陷阈值时，光学薄膜的质量评价结果为不合格；当所述缺陷判断因子小于预设的缺陷阈值时，光学薄膜的质量评价结果为合格。