1.一种用于芯片测试的定位装置，其特征在于：包括测试机(4)和气缸(6)；所述的气缸(6)的缸杆端部固定有推架(7)；所述的推架(7)的底部设有多个缓冲测试组件(8)；所述的缓冲测试组件(8)包括固定在推架(7)底部的滑架(81)，该滑架(81)底部固定有固定座(82)；所述的固定座(82)上方滑动连接有滑动块(83)，该滑动块(83)的底部嵌装有与测试机(4)电性连接的测试针(86)；所述的滑动块(83)外部套接有弹簧(84)。

2.根据权利要求1所述的用于芯片测试的定位装置，其特征在于：所述的固定座(82)纵截面呈C形状设置，且在固定座(82)的两侧开设有便于导向柱(85)滑动的滑槽；所述的导向柱(85)设有两个，固定在滑动块(83)的两侧。

3.根据权利要求2所述的用于芯片测试的定位装置，其特征在于：所述的弹簧(84)下端与滑动块(83)下端固定，其上端与滑架(81)相抵止。

4.根据权利要求1所述的用于芯片测试的定位装置，其特征在于：所述的气缸(6)设有两个，固定在侧立板(5)的外侧；所述的侧立板(5)与支架(3)固定。

5.根据权利要求4所述的用于芯片测试的定位装置，其特征在于：所述的支架(3)固定在工作台(2)上；所述的工作台(2)底部固定有外框(1)和底架(12)。

6.根据权利要求5所述的用于芯片测试的定位装置，其特征在于：所述的工作台(2)上开设有便于夹持架(10)滑动的通槽，所述的夹持架(10)与固定在工作台(2)底部的直线滑台(9)配合连接；在通槽远离夹持架(10)的一端固定有L挡板。