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专利号: 2024210875422
申请人: 成都态凡计科技有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2025-04-18
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种PIN针缺陷检测装置,包括用于托举处理器的托板(1),其特征在于:所述托板(1)一端安装有固定板(4),所述固定板(4)面向托板(1)的一面安装有直板(5),所述直板(5)延伸至托板(1)上侧并与托板(1)平行布置,所述托板(1)上表面远离固定板(4)的一侧安装有竖板(13),所述竖板(13)上端安装有用于驱动处理器与直板(5)相接触的移动件。

2.根据权利要求1所述的一种PIN针缺陷检测装置,其特征在于:所述移动件包括管套(10),所述竖板(13)上端连接固定有管套(10),所述管套(10)朝向固定板(4)的一面为开口状,所述管套(10)开口端安装有端盖(9),所述端盖(9)一侧面开设有方形孔(14),所述方形孔(14)内安插有方形杆(7),所述方形杆(7)处于管套(10)外侧的一端开设有竖向布置的限位孔(19),所述限位孔(19)内安插有横截面为矩形的限位杆(6),所述限位杆(6)下端安装有用于吸附在处理器表面上的橡胶吸盘(8),所述方形杆(7)处于管套(10)内的一端安装有第二磁铁(17),所述管套(10)背离端盖(9)的一面开设有螺纹孔,所述螺纹孔内螺纹连接有螺杆(11),所述螺杆(11)处于管套(10)内的一端安装有与第二磁铁(17)相排斥的第一磁铁(16)。

3.根据权利要求2所述的一种PIN针缺陷检测装置,其特征在于:所述螺杆(11)处于管套(10)外侧的一端安装有手柄(12),所述手柄(12)与螺杆(11)垂直布置。

4.根据权利要求2所述的一种PIN针缺陷检测装置,其特征在于:所述限位孔(19)横截面为矩形,所述限位杆(6)横截面为矩形。

5.根据权利要求1所述的一种PIN针缺陷检测装置,其特征在于:所述托板(1)下表面四个拐角处均连接固定有两个L型座(3),所述L型座(3)水平部上表面开设有固定孔(2)。

6.根据权利要求2所述的一种PIN针缺陷检测装置,其特征在于:所述螺杆(11)处于管套(10)内的一端连接固定有第一载板(15),所述第一磁铁(16)固定在第一载板(15)背离螺杆(11)的一面,所述第一载板(15)尺寸小于管套(10)内部空间尺寸。

7.根据权利要求2所述的一种PIN针缺陷检测装置,其特征在于:所述方形杆(7)处于管套(10)内的一端连接固定有第二载板(18),所述第二磁铁(17)固定在第二载板(18)背离方形杆(7)的一面。